大阪電気通信大学 教員情報データベース >影島 賢巳

基礎理工学科 所属教員一覧

影島 賢巳 Masami KAGESHIMA 画像の説明

  • 所属部署
    工学部 基礎理工学科 教授
  • 専門分野
    ナノメータースケール物性
    生体・ソフトマター物理
  • 研究テーマ
    ナノ空間流体の非線形力学応答計測
    医学・バイオ計測機器の開発
  • URL
  • 経歴
    • 学歴
      東京大学工学部物理工学科卒業(1988年)
      東京大学大学院工学系研究科第一種博士課程物理工学専攻単位取得退学(1993年)
    • 職歴
      東京大学工学部物理工学科教務職員(1993年)
      東京大学工学部物理工学科助手(1995年)
      アトムテクノロジープロジェクト博士研究員(1998年)
      福岡工業大学工学部知能機械工学科助教授(2003年)
      大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻助教授(2004年)
      科学技術振興機構さきがけ「構造機能と計測分析」領域研究員(兼任、2004-2010年)
      大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻准教授(2007年)
      東京学芸大学教育学部自然科学系物理科学分野准教授(2010年)
      関西医科大学医学部医学科物理学教室教授(2012年)
      大阪電気通信大学工学部基礎理工学科教授(2017年)
  • 取得学位
    博士(工学)
  • 受賞、顕彰など
  • 所属学会
    日本物理学会
    応用物理学会
    日本表面科学会

影島 賢巳 Masami KAGESHIMA

  • 所属部署
    工学部 基礎理工学科 教授
  • 学科・学部の運営


  • 委員会、センター、研究所等の学内組織における活動


  • 本学と外部の産官学機関等との連携活動


  • 高大連携、オープンキャンパス、公開講座などの対外的活動


  • その他

影島 賢巳 Masami KAGESHIMA

  • 所属部署
    工学部 基礎理工学科 教授
  • 学部教育(講義)
    基礎理工学入門
    キャリア入門
    基礎理工学特別講義
    量子物理・化学
    化学実験
    応用サイエンス実験


  • 大学院教育(講義)


  • 論文等指導
    • 卒業論文等の指導: 名
    • 修士論文等の指導: 名
    • 博士論文等の指導: 名

影島 賢巳 Masami KAGESHIMA

  • 所属部署
    工学部 基礎理工学科 教授
  • 著書
  1. 「表面分析技術選書 ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡」(丸善、2002)日本表面科学会編 第1章「走査プローブ顕微鏡とは」 影島賢巳、河津 璋
  2. ナノテクノロジーのための物理入門(共立出版、2007年)第1章ナノテクノロジーに現れる原子・分子間相互作用 影島賢巳、杉村博之
  3. 『走査プローブ顕微鏡 ―正しい実験とデータ解析のために必要なこと』(実験物理科学シリーズ第6巻,共立出版,2009)(重川秀実・吉村雅満・河津 璋 編) 基礎編‐II プローブ顕微鏡の基礎 第2章 プローブ顕微鏡のファミリー、実践編 プローブ顕微鏡の使い方 第3章 信号の取り方 3.1節 測定に必要なパラメータ、3.2節 測定条件と参照信号値の選択


  • 学術論文・作品など
    主要学術論文
  1. Novel magnetic indenter for rheological analysis of thin biological sheet for regenerative medicine, Masami Kageshima, Toshiro Maruyama, Tomoya Akama, and Tomoyuki Nakamura, Rev. Sci. Instrum. 87 (2016) 074302 (1-12).
  2. Layer-Resolved Relaxation Dynamics of Confined Water Analyzed through Subnanometer Shear Measurement, Masami Kageshima, Europhys. Lett. 107 (2014) 66001 (1-6).
  3. Pulse-response measurement of frequency-resolved water dynamics on a hydrophilic surface using a Q-damped atomic force microscopy cantilever, Masami Kageshima, Beilstein J. Nanotechnology 3 (2012) 260-266.
  4. Magnetically-modulated atomic force microscopy for analysis of soft matter systems (review article), Masami Kageshima, Curr. Pharm. Biotech. 13(14) (2012 Nov.) 2575-88.
  5. Atomically resolved nucleation and initial growth of a Ag three dimensional island on Si(001) substrate, Osamu Takeuchi, Masami Kageshima, Hiroshi Sakama, Akira Kawazu, Phys. Rev. B. 83 (2011) 205433 (1-10).
  6. Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules, Yoshihiro Aburaya, Hikaru Nomura, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li and Yasuhiro Sugawara, J. Appl. Phys. 109(6) (2011) 064308 (1-8).
  7. Simultaneous observation of surface topography and elasticity at atomic scale by multifrequency FM-AFM, Yoshitaka Naitoh, Zongmin Ma, Yan Jun Li, Masami Kageshima and Yasuhiro Sugawara, J. Vac. Sci. Technol. B 28(6) (2010) 1210-1214.
  8. High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy, Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima and Yasuhiro Sugawara, Appl. Phys. Lett. 97(1) (2010) 011906 1-3.
  9. Step Response Measurement of AFM Cantilever for Analysis of Frequency-Resolved Viscoelasticity, Tatsuya Ogawa, Shinkichi Kurachi, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li and Yasuhiro Sugawara, Ultramicroscopy 110 (2010) 612-617.
  10. Effect of surface stress around the SA step of Si(001) on the dimer structure determined by noncontact atomic force microscopy at 5 K, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Hikaru Nomura, Masami Kageshima and Yasuhiro Sugawara, J. Phys. Soc. Jpn. 79(1) (2010) 013601 1-4.
  11. Development of atomic force microscope with wide-band magnetic excitation for study of soft matter dynamicsMasami Kageshima, Takuma Chikamoto, Tatsuya Ogawa, Yoshiki Hirata, Takahito Inoue, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, and Yasuhiro Sugawara, Rev. Sci. Instrum. 80 (2009) 023705 1-7.(Selected for the March 2, 2009 issue of Virtual Journal of Nanoscale Science & Technology)
  12. The influence of Si cantilever tip with/without tungsten coating on noncontact atomic force microscopy imaging of Ge(001) surface, Yoshitaka Naitoh, Yukinori Kinoshita, Yan Jun Li, Masami Kageshima and Yasuhiro Sugawara, Nanotechnology 20 (26) (2009) 264011 1-7.
  13. Atomic-Scale Imaging of B/Si(111) √3 x √3 Surface by Noncontact Aromic Force Microscopy, Masaharu KINOSHITA, Yoshitaka NAITOH, Yan Jun LI, Masami KAGESHIMA and Yasuhiro SUGAWARA, Jpn. J. Appl. Phys. 47 (10) (2008) 8218-8220.
  14. Theoretical investigation on force sensitivity in Q-controlled phase modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode, Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, and Yasuhiro Sugawara, J. Appl. Phys. 103 (2008) 054305 1-4.
  15. Viscoelasticity and Dynamics of Single Biopolymer Chain Measured with Magnetically Modulated Atomic Force Microscopy, M. Kageshima, Y. Nishihara, Y. Hirata, T. Inoue, Y. Naitoh and Y. Sugawara, Proceedings of 5th International Workshop on Complex Systems, AIP Conference Proceedings 982 (2008) 504-507.
  16. Study of Oxidized Cu(110) Surface Using Noncontact Atomic Force Microscopy, Shohei Kishimoto, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li and Yasuhiro Sugawara, Surf. Sci. 602 (2008) 2175-2182.
  17. Elimination of instabilities in phase shift curves in phase-modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode, Yasuhiro Sugawara, Naritaka Kobayashi, Masayo Kawakami, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, and Masami Kageshima, Appl. Phys. Lett. 90(19) (2007) 194104 (1-3).
  18. Dissipative force modulation Kelvin probe force microscopy applying doubled frequency, H. Nomura, K. Kawasaki, T. Chikamoto, Y. J. Li, Y. Naitoh, M. Kageshima and Y. Sugawara; Appl. Phys. Lett. 90, (2007) 033118(1-3).
  19. Force Microscopy Imaging of Rest Atom on Si(111)7×7 Surface under Strong Tip-Surface Interaction, Y. Naitoh, K. Momotani, H. Nomura, Y. J. Li, M. Kageshima, and Y. Sugawara: J. Phys. Soc. Jpn., Vol.76, No.3, (2007) p.033601 (1-4).
  20. Wide-band and hysteresis-free regulation of piezoelectric actuator based on induced current for high-speed scanning probe microscopy, Masami Kageshima, Shinsuke Togo , Yan Jun Li , Yoshitaka Naitoh , Yasuhiro Sugawara, Review of Scientific Instruments, 77(10) (2006) 103701(1-6).
  21. High-Sensitivity Force Detection by Phase-Modulation Atomic Force Microscopy (PM-AFM), Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima and Yasuhiro Sugawara, Jpn. J. Appl. Phys. Lett. 45 (2006) L793-L795.
  22. Mechanical Force Analysis of Peptide Interactions Using Atomic Force Microscopy, C. Nakamura, S. Takeda, M. Kageshima, M. Ito, N. Sugimoto, K. Sekizawa, J. Miyake, Biopolymers (Peptide Science), 76, pp.48-54 (2004).
  23. Measurement of intramolecular energy dissipation and stiffness of a single peptide molecule with magnetically modulated atomic force microscopy, Masami Kageshima, Seiji Takeda, Arkadiusz Ptak, Chikashi Nakamura, Suzanne P. Jarvis, Hiroshi Tokumoto and Jun Miyake, Jpn. J. Appl. Phys. Lett. 43(12A) (2004) L1510-L1513.
  24. Lithographing of biomolecules on a substrate surface using an enzyme immobilized AFM tip, Seiji Takeda, Chikashi Nakamura, Noriyuki Nakamura, Masami Kageshima, Hiroshi Tokumoto, Jun Miyake, Nano Lett. 3 (11) (2003) pp.1472-1474.
  25. Unfolding process of a single peptide molecule on a substrate was investigated by Atomic Force Microscope, Seiji Takeda, Arkadiusz Ptak, Masami Kageshima, Hiroshi Tokumoto, Chikashi Nakamura, Jun Miyake, Surf. Sci. 532/535 (2003) pp.244-248.
  26. Investigation of the Peptide Conformation by Measuring Force Curve using AFM, Seiji Takeda, Arkadiusz Ptak, Chikashi Nakamura, Jun Miyake, Masami Kageshima, Suzanne P. Jarvis and Hiroshi Tokumoto, Peptide Science (March 2002) pp.261-262.
  27. Noncontact Atomic Force Microscopy in Liquid Environment with Quartz Tuning Fork and Carbon Nanotube Probe, Masami Kageshima, Henriette Jensenius, Martin Dienwiebel, Yoshikazu Nakayama, Hiroshi Tokumoto, Suzanne P. Jarvis, Tjerk H. Oosterkamp, Appl. Surf. Sci. 188(3-4) (2002) pp. 440-444.
  28. Lateral forces during manipulation of a single C60 molecule on the Si(001)-2x1 surface, Masami Kageshima, Hisato Ogiso and Hiroshi Tokumoto, Surf. Sci. Lett. 517 (1-3) (2002) pp L557-L562.
  29. Insight into Conformational Changes of a Single α-helix Peptide Molecule through Stiffness Measurements, Masami Kageshima, Mark A. Lantz, Suzanne P. Jarvis, Hiroshi Tokumoto, Seiji Takeda, Arkadiusz Ptak, Chikashi Nakamura, Jun Miyake, Chem. Phys. Lett. 343 (1/2) (2001) pp77-82.
  30. Measurement of the Length of the α Helical Section of a Peptide Directly Using Atomic Force Microscopy, Seiji Takeda, Arkadiusz Ptak, Chikashi Nakamura, Jun Miyake, Masami Kageshima, Suzanne P. Jarvis and Hiroshi Tokumoto, Chem.Pharm.Bull. 42(12) (2001) pp.1512-1516.
  31. Modified atomic force microscope applied to the measurement of elastic modulus for a single peptide molecule, Arkadiusz Ptak, Seiji Takeda, Chikashi Nakamura, Jun Miyake, Masami Kageshima, Suzanne P. Jarvis and Hiroshi Tokumoto, J. Appl. Phys. 90(6) (2001) pp.3095-3098.
  32. Scanning Tunneling Microscopy Study on c(6x2) Structure of Ag/Si(001), Osamu Takeuchi, Masami Kageshima, Akira Kawazu, Hiroshi Sakama, Jpn. J. Appl. Phys. 40(6B) (2001) pp.4414-4418.
  33. Study of Au-Induced Reconstruction on Si(001) Surface by Scanning Tunneling Microscopy and Low Energy Electron Diffraction, Masami Kageshima, Yuji Torii, Yutaka Tano, Osamu Takeuchi, and Akira Kawazu, Surf. Sci. 472 (2001) pp51-58.
  34. Atomic Force Microscopy Cantilevers for Sensitive Lateral Force Detection, Masami Kageshima, Hisato Ogiso, Shizuka Nakano, Mark A. Lantz, and Hiroshi Tokumoto, Jpn. J. Appl. Phys. 38 (6B) (1999) pp.3958-3961.
  35. Behavior of Charge Density Waves in a One-Dimensional Organic Conductor Visualized by Scanning Tunneling Microscopy, Tetsuya Nishiguchi, Masami Kageshima, Norihiko Ara-Kato and Akira Kawazu, Phys. Rev. Lett. 81 (15) (1998) pp.3187-3190.
  36. Nature of Tip-Sample Interaction in Dynamic Mode Atomic Force Microscopy, Masami Kageshima, Takahiro Imayoshi, Hirofumi Yamada, Kan Nakayama, Hiroshi Sakama, and Akira Kawazu, Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) pp. 7354-7357.
  37. Nanorheology of Polymer Blends Investigated by Atomic Force Microscopy, Ken Najajima, Hideki Yamaguchi, Jeong-Chang Lee, Masami Kageshima, Takayuki Ikehara and Toshio Nishi, Jpn. J. Appl. Phys.36 (1997) pp.3850-3854.
  38. Reconstructions on the Si(113)surface, Hiroshi Sakama, Daisuke Kunimatsu, Masami Kageshima, and Akira Kawazu, Phys. Rev. B 53 (1996) pp.6927-6930.
  39. Tip-Induced Surface Disorder on Hydrogen-Terminated Silicon (111) Surface observed by Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscopy, Masami Kageshima, Hirofumi Yamada, Yukinori Morita, Hiroshi Tokumoto, Kan Nakayama and Akira Kawazu, Jpn. J. Appl. Phys. 33 (1994) pp.3735-3738.
  40. Observation of Hydrogen-Terminated Silicon (111) Surface by Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscopy, Masami Kageshima, Hirofumi Yamada, Yukinori Morita, Hiroshi Tokumoto, Kan Nakayama and Akira Kawazu, Jpn. J. Appl. Phys. Lett. 32 (9B) (1993) pp.L1321-L1323.
  41. Development of Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscopy for Investigations of Semiconductor Surfaces, Masami Kageshima, Hirofumi Yamada, Kan Nakayama, Hiroshi Sakama, Akira Kawazu, Toru Fujii and Masatoshi Suzuki, J. Vac. Sci. Technol. B 11 (6) (1993) pp.1987-1991.
  42. Observation of Thin Film of One-dimensional Organic Conductor Tetrathiofulvalene Tetracyanoquinodimethane by Means of Atomic Force Microscopy, Ken Nakajima, Masami Kageshima, Norihiko Ara, Masamichi Yoshimura and Akira Kawazu, Appl. Phys. Lett. 62 (16) (1993) pp.1892-1894.
  43. Imaging of Polydiacetylenes by Atomic Force Microscopy, H. Yamada, S. Okada, T. Fujii, M. Kageshima, A. Kawazu, H. Matsuda, H. Nakanishi and K. Nakayama, Appl. Surf. Sci. 65/66 (1993) pp.366-370.
  44. Electronic Structure of the Organic Superconductor κ-(BEDT-TTF) 2Cu(NCS) 2 Studied by Angle-Resolved Photoemmision Spectroscopy, Masamichi Yoshimura, Hidemi Shigekawa, Takehiko Mori, Masami Kageshima, Hiroo Kato, Yasuo Sakisaka, Gunji Saito and Akira Kawazu, Jpn. J. Appl. Phys. 31 (1992) pp.1341-1342.
  45. The Surface Structure of (BEDT-TTF) 2KHg(SCN) 4 Observed by Scanning Tunneling Microscopy, Masamichi Yoshimura, Norihiko Ara, Masami Kageshima, Ryu Shiota, Akira Kawazu, Hidemi Shigekawa, Yoshio Saito, Masashi Oshima, Hatsumi Mori, Hideki Yamochi and Gunji Saito, Surf. Sci. 242 (1991) pp.18-22.
  46. Observation of an organic superconductor [bis(ethylenedithio)-tetrathiafulvalene]2[Cu(NCS) 2] by Scanning Tunneling Microscopy, M. Yoshimura, K. Fujita, N. Ara, M. Kageshima, R. Shioda, A. Kawazu, H. Shigekawa and S. Hyodo, J. Vac. Sci. Thechnol., A 8 (No.1/2) (1990) pp.488-489.


  • 国際会議、国内会議、発表会、コンクールなど


  • 外部資金の獲得、特許・著作権等の知財権の取得など


  • 学会等における活動(学術集会の組織、雑誌編集など)

影島 賢巳 Masami KAGESHIMA

  • 所属部署
    工学部 基礎理工学科 教授
  • 地域社会における貢献
  1. 東京都教員免許状更新講習の講師を担当、中・高の教諭17名を対象に「物理としての生命現象」のタイトルで半日間の講習。(2011)

  • 公的機関等における委員・役員など


  • 学会等の財団法人・社団法人における組織運営
  1. 表面科学(日本表面科学会発行)編集委員 (2000-2004年)
  2. 応用物理学会 薄膜・表面分科会主催特別研究会「走査型トンネル顕微鏡」(International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy) 運営委員 (1998-2015)
  3. International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques 2005 (STM05) (July 3-7, 2005, Sapporo) 実行委員
  4. Japanese Journal of Applied Physics 編集委員 (2007-2015)
  5. Japanese Journal of Applied Physics, Special Issue “Scanning Probe Microscopy"編集委員長(2007-2015)
  6. 日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会運営委員(2009-)


  • 国内外における災害救助活動、NPO 活動など


  • その他

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